詳細摘要： 簡單介紹：多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區域。光譜光譜至少可以在5毫秒內測量。標準光纖無需樣品類型即可支持各種測量系統。除了顯微光譜，光源發射，透射...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-29 在線留言塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
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<ul id="qqie6"></ul> 塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
詳細摘要： 簡單介紹：多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區域。光譜光譜至少可以在5毫秒內測量。標準光纖無需樣品類型即可支持各種測量系統。除了顯微光譜，光源發射，透射...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-29 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的裝置。通過將原來的光譜干涉法與*新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少測量間隔至少測量500 m...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-29 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：它可以測量從LED到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 ·通過控制光源的加熱/冷卻可以評估溫度特性 ·系統...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-29 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：除了可以進行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實現自動可變測量機制來支持所有類型的薄膜。除了常規的旋轉光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-29 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：一種測量照明設備的配光特性的設備。?使用內部開發的分光鏡可以實現高精度的測量！-可以與配光數據一起測量顏色！-即使在光譜測量中，也可以實現相當于照度計...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：基于與NIMS共同開發的單顆粒診斷方法*的測量是可能的。 *與國立材料科學研究所，弘前直人研究員和武田隆史研究員共同研究
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區域中的雜散光。另外，通過...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：評估紫外線區域中光源的輻射度。?通過分光輻射度測量可以高精度地測量亮度?支持紫外，可見光和紅外的寬波長測量范圍?可以進行光生物學安全性評估它是可以測量...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-20 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：它是一種相位差測量設備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。實現與超高Re.60000 nm兼容的高速...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：“紫外光譜輻照度測量系統IL100"評估光源在紫外區域中的輻照度。?從分光光度計測量可高精度地測量照度?從紫外線到可見光的測量波長范圍寬?可選擇適合于...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：該設備可以輕松地離線檢查面內膜厚不均，以進行膜的研發和質量控制的抽樣檢查。可以高速且高精度地測量整個表面。
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：它是一種單獨評估光源或光學材料光分布的設備。實現10分鐘的測量時間，分布測量常識！僅一次測量可捕獲每個空間照度！支持其他公司的光學設計軟件處理的數據格...
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言
詳細摘要： 簡單介紹：評估UV LED的光分布特性。?根據輻射強度/輻照度評估光分布?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強度可視化**和樹脂固化光源的不均勻輻射。
產品型號：所在地：更新時間：2023-04-19 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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